本申請公開了一種壓阻式自檢測自激勵SECM探針,涉及掃描電化學顯微鏡領域,包括主體支撐結構;與主體支撐結構集成的懸臂梁;設于懸臂梁表面的針尖;覆蓋于針尖的金屬層,用于連接輸入端,并通過輸入端輸入的電壓或電流產生電熱作用,使懸臂梁發生形變,以使懸臂梁向待測樣品施加作用力;設于主體支撐結構上表面的惠斯通電橋,用于當懸臂梁向待測樣品施加作用力時,輸出與作用力對應的檢測信號。本申請針尖上的金屬層在電熱作用下使懸臂梁產生彎曲形變,從而向待測樣品施加作用力,實現自激勵;當懸臂梁產生彎曲形變,惠斯通電橋中可變電阻的阻值發生變化,輸出檢測信號,實現壓阻自檢測,不需設置四象限探測器和激光器,簡化結構和操作難度。
聲明:
“壓阻式自檢測自激勵SECM探針” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)