本發明公開了一種基于近紅外特征波譜的葉菜農藥殘留量檢測裝置及方法,涉及葉菜農藥殘留檢測技術領域,包括獲取未知農藥殘留濃度的葉片勻漿樣品;將裝有葉片勻漿樣品的培養皿置于葉菜農藥殘留量檢測裝置的樣品槽上,以獲取所述葉片勻漿樣品的光譜數據;對光譜數據進行預處理得到光譜矩陣和所述光譜矩陣對應的農藥濃度矩陣;根據光譜矩陣和光譜矩陣對應的農藥濃度矩陣建立回歸系數?光譜波長關系圖;根據回歸系數?光譜波長關系圖確定葉菜中農藥殘留量對應的特征波長;根據特征波長對應的光譜強度值計算葉菜葉片中的農藥殘留量。本發明在樣品準備過程中無需復雜繁瑣的化學處理,實現快速檢測目的。
聲明:
“基于近紅外特征波譜的葉菜農藥殘留量檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)