本發明公開一種OLED顯示裝置及其封裝效果的檢修方法,涉及顯示技術領域,以提高OLED顯示裝置的出廠合格率。所述OLED顯示裝置包括襯底基板、OLED器件、封裝結構,封裝結構與襯底基板之間形成封裝空腔,OLED器件位于封裝空腔內;所述OLED顯示裝置還包括檢測部,檢測部位于封裝空腔內,檢測部對水或/和氧的化學活性與OLED器件對水或/和氧的化學活性相同,或者,檢測部對水或/和氧的化學活性高于OLED器件對水或/和氧的化學活性。所述OLED顯示裝置用于顯示畫面。
聲明:
“OLED顯示裝置及其封裝效果的檢修方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)