本發明屬于氫滲透電化學測量領域,具體地說是一種測試純鈦表觀氫擴散系數的裝置及測量方法。所述裝置主要包括充氫系統的第一電解池、第二電解池以及測氫系統的第三電解池。其中雙面工作電極0.01~0.1mm厚的b形鈦片安裝在第二電解池與第三電解池之間,試樣尾部充當導線,在第一電解池與第二電解池之間設有質子交換膜。本發明所提供的三電解池裝置及方法可測試低溫下純鈦在多種介質環境下不同溫度表觀氫擴散系數,測試溫度范圍為25~100℃,測試溫度精確到±1℃,采用超薄的鈦箔作為工作電極,工作電極無需鍍鎳,使用質子交換膜防止了輔助電極反應產物對工作電極反應的干擾,能夠在相對較短時間測得低溫下氫在純鈦中的表觀擴散系數,成本低,操作方便,測定結果準確且穩定的特點。
聲明:
“測試純鈦表觀氫擴散系數的裝置及測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)