本發明屬于物體的質量測量技術,公開了一種磁懸浮天平及質量測量方法,包括:柱形磁懸浮運動執行器,其包括初級線圈、初級永磁體、次級永磁體、固定于次級永磁體的載物托盤;位置測量傳感器,其能夠實現動子的高精度、非接觸測量;配套硬件系統,其包括功放電路、控制器。本發明解決了現有化學樣品的質量監測問題,尤其當被檢測樣本需置于密閉容器內時,本發明可以實現樣品質量的非接觸檢測。本發明采用線圈激勵電流反演物體質量,有別于現有磁懸浮天平僅將磁懸浮單元作為質量傳遞機構,真正實現了測量過程與外界的非接觸,便于實現儀器的集成化與小型化,同時實現精密質量計量。
聲明:
“磁懸浮天平及質量測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)