本發明公開了一種測定顆粒物分形維數的方法,屬于顆粒物檢測技術領域,旨在解決現有光學方法測定結果容易受顆粒物折射率及分散相顏色等因素干擾,且在實際應用過程中光室的耐污性較差,即使輕微的污染也會造成較大的測量誤差等問題。本發明繞過現有光學方法,用連接有電導電極的商業電化學阻抗儀測定不同顆粒物濃度的顆粒懸濁液樣品的電學特征參數,根據建立的電學參數與顆粒物濃度的無標度模型提取出顆粒物的分形維數。與目前現有方法相比,本發明不受待測顆粒物及分散相的折射率和顏色的影響,且由于沒有光路系統,抗雜質污染影響的能力較強,設備維護相對簡單,更能適應工業生產運行中的實際使用環境。
聲明:
“測定顆粒物分形維數的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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