用于測量包括至少兩種化學組分的樣品(6,26,36,46,56,82)的化學組成的方法,包括以下步驟:-用光源(14)照射(74)積分腔(1,2a,80,90),-將所述樣品(6,26,36,46,56,82)帶入到所述積分腔(1,2a,80,90)中,-使用傳感器(19)檢測(79)來自所述積分腔(1,2a,80,90)的光信號,以及-通過光譜分析來顯示(75)所述樣品(6,26,36,46,56,82)的化學組成。所述樣品(6,26,36,46,56,82)在所述積分腔(1,2a,80,90)內的至少一個維度上形成了光學薄的層。本發明還包含關于用于測量樣品的化學組成的光學測量設備以及方法的獨立權利要求。
聲明:
“光學采樣設備以及使用該采樣設備的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)