本申請提供一種儲層微觀孔隙結構的表征系統,以能夠表征小于50納米的儲層微觀孔隙結構。本申請所提供一種儲層微觀孔隙結構的表征系統包括:薄片制作裝置,其用于制作儲層薄片;電極封裝裝置,其用于利用所述儲層薄片制作儲層薄片電極;電化學沉積裝置,其用于利用電化學沉積在所述儲層薄片電極的儲層薄片內部孔隙中沉積結晶物;獲取裝置,其用于去除所述沉積結晶物的儲層薄片的巖石部分以獲得所述結晶物;分析檢測裝置,其用于掃描所獲得結晶物的形貌。通過本申請所提供的儲層微觀孔隙結構的表征系統,能夠有效表征出小于50納米的儲層微觀孔隙結構。
聲明:
“儲層微觀孔隙結構的表征系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)