本發明公開了一種高溫合金鑄錠枝晶偏析和枝晶間距定量表征方法,包括高溫合金的制備和表面處理、校準樣品的選取和元素含量測定微束X射線熒光光譜儀元素定量方法的建立、高溫合金的元素成分定量分布分析、高溫合金特征元素線分布定量表征和特征元素線分布圖譜解析和二次枝晶間距統計。本發明根據高溫合金元素的凝固偏析特性,依據特征元素的含量二維分布圖確定一次枝晶臂的分布取向和相鄰一次枝晶間距,并通過特征元素含量線分布圖譜來計算二次枝晶臂的平均間距和偏析比,制樣簡單,無需進行樣品表面的化學腐蝕,極大地提高了檢測效率,具有統計的視場大,信息全的優點,統計的數據更為準確可靠。
聲明:
“高溫合金鑄錠枝晶偏析和枝晶間距定量表征方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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