本發明提供了一種利用X射線熒光能譜鑒定瓷松的方法,涉及鑒定方法領域。該方法包括:取瓷松的真品制得標準樣品,采用X射線熒光能譜法分析標準樣品,得到瓷松中化學元素的類別和含量;取多個瓷松真品進行X射線熒光能譜法分析,得到瓷松的化學元素數據,建立瓷松的標準指紋圖譜;取待測綠松石制樣得待測樣品,采用X射線熒光能譜法分析待測樣品,獲得待測樣品的X射線熒光能譜,再與標準指紋圖譜進行比對。這種方法能夠通過測定化學元素的特征X射線譜線的波長和強度,對瓷松的化學組成進行定性和定量分析,方法靈敏度高,可有效鑒別瓷松的真偽、優劣。
聲明:
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