光譜研究金屬及合金之緩蝕劑的作用及其擇優化表面技術。本發明屬于光譜學與金屬腐蝕與防護技術相結合的技術領域。固定光譜電解池(如圖)由以半圓形硅柱2作載體,表面化學鍍金,電沉積被研究對象的金屬為電極1(銅線8相接),對電極純鉑電極3,及參比飽和甘汞電極4,進出N2氣口5,6構成,并置全反射的光路中,以溶液進出口7,將緩蝕劑于池中換液,并靜置數小時,使電極表面自組裝上緩蝕劑分子。用原位表面增強紅外光譜,對上樣品進行電位調制分析。與以往技術相比,其通過在紅外窗口半圓形硅柱上,鍍金屬納米薄膜為電極,又利用原位表面增強紅外技術,研究不同緩蝕劑分子在金屬表面隨電位變化的吸附構型,了解緩蝕劑作用過程,使此技術在金屬或合金防蝕與保護上有更有效的廣泛應用。
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