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    用于SECCM高分辨成像的探針單元和控制方法

    1163   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:17:28
    本發明屬于電化學技術領域,公開了一種用于SECCM高分辨成像的探針單元和控制方法,探針單元包括單通道的探針,探針的開孔直徑為50?100nm;探針由控制模塊對其液滴針尖進行控制;控制模塊用于進行如下控制方法:在進針過程增設最小化的進針電壓校正,在進針過程增設最小化的進針速度校正,在電化學測試過程增設最小化的測試電壓校正,以及在抬針過程增設最小化的抬起高度校正。本發明極大的提高了成像過程中的穩定性,為實現高分辨的成像提供了更大的可能性;并且不需要添加額外的硬件設備,避免儀器設備成本的過高增加。測試表明,本發明能夠成功得到40?50nm尺寸樣品的高分辨形貌圖像,已達到國際領先水平。
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