本發明涉及透射電子顯微鏡配件及低維材料原位測量研究領域,具體為一種透射電子顯微鏡用原位電學樣品桿系統。該系統包括:用于傳導電信號的高真空圓形氣密連接器、表面絕緣的中空樣品桿框架、置于樣品桿框架內的導線、陶瓷加熱片、熱敏電阻、控溫單元、加熱芯片等。熱敏電阻和陶瓷加熱集成于微型樣品臺上,通過導線和圓形氣密連接器與外部電路單元連接,用于監控微型樣品臺的加熱溫度、加熱速率和溫度穩定性;加熱芯片置于微型樣品臺上,可進一步對樣品微區進行溫度調控。本發明最大限度地實現在真空環境中和加熱、加電外場條件下對材料宏觀性能的原子尺度測量與研究,廣泛適用于探究各種高溫相變、電學性能、熱電性能、化學反應等。
聲明:
“透射電子顯微鏡用原位電學樣品桿系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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