本申請公開了一種碳納米材料空間帶電粒子輻射效應表征方法,通過對不同碳納米材料在不同能量的不同輻照源下的宏觀性能和微觀性能進行表征,獲得碳納米材料在輻照作用下的退化規律及退化機制。材料受輻照后可能產生的機理主要包括電離損傷和位移損傷兩種方式,通過拉曼光譜(Raman)以及掃描電鏡(SEM)形貌表征能夠一定程度上確定材料內部是否存在位移損傷效應。而通過對材料內部整體C/O比進行定量測試獲得該數值與輻照注量的關系能夠對材料受電離作用后化學鍵的斷裂情況進行描述,從而確定其電離損傷情況。
聲明:
“碳納米材料空間帶電粒子輻射效應表征方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)