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    利用能譜分析無損檢測試樣膜厚的方法

    1208   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:57:53
    本發明公開了一種利用能譜分析無損檢測試樣膜厚的方法,利用不同成分的膜層在加速電子轟擊下,會激發不同特征X射線的原理,對標塊進行加速電子轟擊,制定出膜層特征元素與膜厚之間的對應關系標準曲線,然后分析對待測試樣進行加速電子轟擊后得出的X射線的強度與頻率,得到元素的含量,對比標準曲線,計算出膜層厚度。本發明僅采用常見的掃描電子顯微鏡和能譜儀,無需額外的檢測特制輔助設備和配件投入,成本低且操作簡單,適用于納米及微米范圍內,無機非金屬、高分子和金屬各類膜層,同時適用于單層、雙層和三層復合膜層的膜厚檢測,適用范圍廣,且不會對樣品造成損壞。
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