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    用于對薄層的厚度進行無損測量的測量探頭

    822   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:57:56
    本發明涉及一種用于無損測量薄層厚度的測量探頭,特別是空腔中的薄層,其通過開口可進入或是在彎曲表面上的,該測量探頭具有測量頭(17),其包括至少一個傳感器元件(18)和分配到空腔(26)的待檢查表面(27)上的傳感器元件(18)上的至少一個接觸球冠(31),并具有抓握元件(12),用于在待檢表面(27)上和/或沿著待檢表面(27)定位和引導測量探頭(11),特征在于在抓握元件(12)上設置長的、彈性屈服的導桿(16),其在它的與抓握元件(12)相對的末端上接收至少一個測量頭(17,60),以這種方式,測量頭以相對于導桿(16)的至少一個自由度可移動。
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