本發明公開了一種基于手性系統的無損單光子探測方法:首先,單光子從第一光纖裝置接收端進入第一光纖裝置中,并近乎無損的將單光子從第一光纖裝置的輸出端耦合到耦合了發射子的一維手性結構中,在耦合了發射子的一維手性結構中的發射子與單光子發生相互作用,該相互作用結束后發射子波函數狀態中的基態幾率幅改變了±π相移,而單光子不被原子吸收,仍然保持原有特性不變,然后,單光子從第二光纖耦合裝置的接收端進入第二光纖耦合裝置中,并近乎無損的從第二光纖耦合裝置的輸出端中透射出來。本發明可以在探測單光子的同時,不破壞信號光子,提高探測率。
聲明:
“基于手性系統的無損單光子探測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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