本發明公開了一種無損、快速的TSV結構側壁形貌測量方法,包括如下步驟:利用高分辨率IR顯微鏡,調節聚焦深度,選取多個焦平面;選定其中一焦平面,并針對該焦平面所獲得的圖像,獲得圓心的位置;計算邊緣輪廓到圓心的距離,獲得該焦平面圖像的邊緣到圓心的距離分布;改變焦平面位置,重復步驟三,計算出每一個焦平面圖像的邊緣到圓心的距離分布,獲得在同一個旋轉角度下,邊緣在深度方向到圓心的距離分布;結合步驟五所得的計算結果,得到TSV結構側壁的三維形貌分布;通過統計計算,獲得TSV結構側壁的形貌測量。
聲明:
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