本發明公開了一種編碼結構光的階次無損校正方法,所述方法包括以下步驟:構建由投影系統、以及相機組成的結構光三維測量系統;由相移法獲取正常光柵順序的包裹相位與改變相移順序獲得的包裹相位和并分別提取兩組包裹相位的跳變位置D1和D2,再通過求相交的方法確定需校正位置P1;經過解包裹運算可得絕對相位值Φ(x,y),對絕對相位值Φ(x,y)采用相位比較方法對相位跳變點處P1處的階次值進行校正;通過八鄰域遍歷尋找前述未處理完全的階次噪聲,并運用鄰域相位比較方法對階次噪聲的階次值進行校正。本發明解決了編碼結構光所存在的階次誤差問題,并同時適用于靜態與動態測試的階次噪聲校正環節。
聲明:
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