本發明公開了一種陶瓷基板缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法,包括殼體,所述殼體內壁設有加工臺和支撐架,所述加工臺位于所述支撐架內側,所述加工臺內壁設有固定機構,所述支撐架外壁設有檢測組件,所述支撐架內壁設有調節組件??梢詫μ沾苫暹M行無損測試,并且準確定位缺陷位置,檢測的準確度較高,可以調節氣囊張開的范圍,對陶瓷基板的側面進行支撐,可以對不同大小的陶瓷基板進行固定,在檢測的過程中避免陶瓷基板發生位移,提高檢測的精準度,能夠避免紅外相機發生晃動,保證紅外相機使用時的穩定性,可以對不同厚度的陶瓷基板進行測試,可以調節金屬電極板和透明薄膜電極板的位置,從而提高器件的緊密性。
聲明:
“陶瓷基板缺陷檢測裝置及缺陷檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)