本發明公開了一種基于單對電極電容成像檢測技術的非導電材料開口缺陷寬度方向尺寸量化的方法,涉及無損檢測信號處理領域,包括:利用一個極板間距為S的探頭接收包括非導電材料開口缺陷在內的輸入單對電極電容成像連續n個位置處的檢測信號電壓值Un,對所述n個點求檢測信號電壓值對檢測位置Xn的導數ΔUn=(Un+1?Un)/(Xn+1?Xn),并繪制所述檢測信號電壓值導數ΔUn關于檢測位置Xn的曲線;獲取檢測信號導數ΔUn關于檢測位置Xn的導數曲線的最大值點Xmax點和最小值點Xmin,最大值點與最小值點之間的距離為L=|Xmax?Xmin|,非導電材料開口缺陷寬度方向的尺寸為D=L?S。本發明通過對單對電極電容成像檢測信號進行求導處理,進一步實現對非導電材料開口缺陷寬度方向尺寸進行量化。
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