本發明公開一種基于相移偏折術的高反射物體表面缺陷檢測方法,其包括:S1、根據測量系統的幾何物理模型搭建測量系統。S2、利用工控機編碼生成正弦條紋圖,經顯示器屏幕投影到待測物體表面,利用相機采集被測物體表面調制之后的圖像。S3、分割出待測零件的感興趣的區域,將待測區域的定位與截取。S4、對圖像進行相位提取和相位展開,得到擬合面形實現鏡面三維物體形貌的測量與重建。本發明是一種高速無損可檢測高反射物體表面缺陷的檢測方法。
聲明:
“基于相移偏折術的高反射物體表面缺陷檢測” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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