• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 無損檢測技術

    > 基于納米測量與傾斜掃描白光干涉微結構測試系統及方法

    基于納米測量與傾斜掃描白光干涉微結構測試系統及方法

    1205   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:23
    一種基于納米測量與傾斜掃描白光干涉微結構測試系統及方法,系統有圖像采集卡,數字CCD攝像機,顯微光學系統,干涉物鏡,可調傾斜工作臺,PC機,納米測量機,工作臺傾斜控制器,通過光纖向顯微光學系統提供光源的白光光源,PC機還分別連接圖像采集卡和工作臺傾斜控制器。方法是在納米測量機的工作平臺上固定可調傾斜工作臺,將被測樣品至于其上,由PC機控制納米測量機帶動可調傾斜工作臺沿其傾斜角度完成掃描,CCD數字攝像機采集圖像并由圖像采集卡傳至PC機進行后續處理;對于采集的圖像進行追蹤并進行干涉信號的提取后,進行零級干涉條紋的位置進行定位,最終確定表面形貌。本發明為無損的檢測,消除了光源熱效應的影響,可以實現0.1nm的位移分辨力。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “基于納米測量與傾斜掃描白光干涉微結構測試系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    無損檢測
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>