本發明提供一種基于散斑干涉的變形和應變同步測量系統及測量方法,涉及光學測試技術領域。其特征在于:包括激光器和分束鏡,所述激光器發射的激光經所述分束鏡分為透射光和反射光;所述透射光經擴束鏡擴束后照射至被測物形成漫反射光;所述反射光依次經光纖和分光棱鏡后作為參考光進入光路;所述漫反射光依次經光闌、成像透鏡、分光棱鏡和邁克爾遜剪切裝置后,獲得具有剪切量的兩束物光;所述光纖引入的參考光經邁克爾遜剪切裝置后,獲得具有剪切量的兩束參考光;所述具有剪切量的兩束物光和具有剪切量的兩束參考光在CCD相機的靶面上干涉,形成散斑干涉圖。本發明可對被測物進行散斑和剪切的同步動態檢測,是一種無損、全場、高精度的測量系統。
聲明:
“基于散斑干涉的變形和應變同步測量系統及測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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