本申請公開了一種用于待測元器件的測試治具,包括上蓋和下蓋,所述上蓋和下蓋之間設有中間可容納待測元器件的凹槽,所述上蓋上對應于所述待測元器件的位置設有彈片結構,所述彈片結構是導電材質,所述彈片結構從所述上蓋的外圍朝向所述上蓋的中心延伸,以使得當所述上蓋和下蓋蓋合時所述彈片結構能夠與所述凹槽中的待測器件相接觸。通過采用上述結構,待測元器件進行測試時,除彈片結構與待測元器件接觸的部位外,其余部位不承受壓力,彈片結構降低了施加在待測元器件上的扭力,同時又實現了電氣連接,使該治具成為一種無損的測試治具,極大降低了待測元器件測試時產生的破損率。
聲明:
“用于待測元器件的測試治具” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)