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    碳/碳化硅復合材料內部缺陷厚度測量方法

    748   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:27
    本發明公開了一種碳/碳化硅復合材料內部缺陷厚度測量方法,設計并制備厚度梯度變化的缺陷材料標樣,利用X射線照相檢測標樣,將照相底片掃描成電子圖片得到其灰度圖像;編程計算得到圖像各缺陷區域與無缺陷區域灰度的比值,建立缺陷厚度與對應灰度比值標定函數關系式;再利用標定函數去計算同種材料在相同檢測條件下缺陷的厚度,實現缺陷厚度的定量測量。本方法克服了傳統X射線照相無損檢測方法檢測缺陷厚度過程中使用黑度計一次檢測面積小、誤差大、測量效率低等缺點,建立材料缺陷厚度與缺陷灰度和無缺陷灰度比值的標定函數關系,實現該種材料缺陷厚度的定量測量,檢測效率高、精度較高。
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