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    弱磁場梯度測量裝置及方法

    745   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:27
    本發明公開了一種弱磁場梯度測量的裝置及方法,所述的裝置包括探頭、選頻放大電路、含A/D和D/A的單片機系統、升壓驅動電路、顯示單元,所述探頭包括傳感器、振動部件和外殼,振動部件為懸臂梁結構的壓電雙晶片,傳感器安裝在振動部件的自由端;所述的方法包括采用自相關檢測技術,通過傳感器的振動將靜態的磁場分布調制成恒定頻率的微弱交流信號輸出,由選頻放大電路對該微弱信號進行放大,由單片機系統A/D轉換并作自相關運算處理,算出信號的峰峰值電壓,該電壓正比于被測量的磁場梯度值。本發明測量靈敏度高、成本低;不受工作環境條件限制;本發明尤其應用于金屬磁記憶無損檢測時,沒有微分噪聲,對缺陷和應力集中檢測準確性高。
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