本發明公開了一種用于物質的太赫茲精細譜探測儀,采用室溫相干太赫茲源和檢測方法,包括發射支路和接收支路,發射支路和接收支路均設計有太赫茲倍頻鏈陣列,通過太赫茲倍頻鏈陣列來產生連續太赫茲波;太赫茲倍頻鏈陣列根據實際測量需求設計有具體的分段數,利用這種太赫茲倍頻鏈陣列可以實現0.1?1.5?THz范圍全覆蓋;因此本發明,可以測量物質的太赫茲精細譜,譜分辨率可達百KHz,比THz?TDS系統提升三個量級;本發明采用全固態方式實現,易于集成,可靠性高;進一步的,采用自由空間法測量物質的透射譜,具有校準方便、對待測樣品無損傷的優點。
聲明:
“太赫茲精細譜探測儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)