本發明屬于元素分析檢測技術領域,特別涉及一種快速測定痕量輕元素上照式X射線能譜分析儀及分析方法。分析儀包括機柜(101)、電腦(102)、樣品腔室(303)、X射線光管(301)、探測器(302)、樣品杯(305)、高壓電源(306)、升降平臺(201)和真空泵;分析方法為:將表面光潔待測樣品(501)裝入樣品杯(305)中,通過電腦(102)控制升降平臺(201)將樣品杯(305)向上升起,進入樣品腔室(303)內的檢測位置并采用無油真空泵快速抽真空,可同時測定痕量多個輕元素;檢出限可低至1ppm。本發明能夠極大降低空氣對輕元素特征譜峰的吸收,降低檢出限;整個測試無耗材,具有操作簡單、無損快速、精確定量、低成本等特點。
聲明:
“快速測定痕量輕元素上照式X射線能譜分析儀及分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)