本發明公開了一種用于射線底片黑度動態測量的裝置,涉及工業射線底片黑度測量領域。本發明克服了傳統的黑度測量設備主要用于單點測量,測量過程繁瑣,不適用于大批量底片黑度值檢測的缺陷。本發明基于多傳感器采集光照,巧妙結構設計,采用皮帶自動無損傳片的原理和高性能芯片的信號處理,實現了底片黑度值的多區域、高精度、高速度的動態測量,能夠滿足工業評片場合要求的大批量底片質量快速評判,從而保證底片后續處理的順利進行,提高了底片處理效率。
聲明:
“用于射線底片黑度動態測量的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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