本發明公開了一種基于光學相干斷層掃描成像技術測量涂層厚度及其應用,所述的方法包括以下步驟:搭建光學相干斷層掃描成像(OCT)測試系統;使用OCT系統對樣品材料進行深度方向和表面的二維橫截面進行掃描,并最終獲得被測對象的三維掃描圖;將所獲得的三維掃描圖進行降噪處理后,轉換成二進制圖像,之后采用邊緣跟蹤法分割涂層的上下邊界,計算涂層的厚度。所述的方法不僅能夠實現對涂層的無損自動檢測,而且該方法能夠實現快速、準確、大范圍的測量涂層的厚度??蓱糜跍y量薄膜涂層的厚度包括印刷電路板表面的三防漆、著色聚合物涂料、瓷器保護涂層、等離子噴涂陶瓷、生物可降解復合涂層、清漆涂層、透明或半透明藥片薄膜涂層。
聲明:
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