本實用新型提供了一種對芯片無損傷、自動化程度高的半導體芯片分選測試裝置的上料輸送裝置。包括位于工作臺上的托盤上料喂料裝置、取托盤裝置、取芯片裝置和芯片輸送裝置,托盤上料喂料裝置負責將托盤升到合適位置供取托盤裝置取托盤,取托盤裝置負責將提籃中的托盤挨個取出供取芯片裝置取芯片,取芯片裝置負責將托盤中的芯片取出并送至芯片輸送裝置中,芯片輸送裝置負責將芯片送至檢測工位;本實用新型中各芯片間碰撞、摩擦少,大大提高了芯片的良品率,降低了生產消耗,從而降低生產成本。
聲明:
“半導體芯片分選測試裝置的上料輸送裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)