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    SMD5032晶體振蕩器振動試驗下電性能監測實現裝置和方法

    945   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:32
    本發明公開一種SMD5032晶體振蕩器振動試驗下電性能監測實現裝置和方法,用于解決現有SMD7050封裝晶體振蕩器產品振動試驗下電性能監測裝置無法測試SMD5032封裝晶體振蕩器問題,該裝置包括固定部件、裝置主體和底座,固定部件包括金屬壓條和固定螺絲,裝置主體包括測試座、控制電路模塊、印制板、電路板電源線、電路板邏輯控制線和電路板頻率輸出電纜線,測試座和控制電路模塊安裝在印制板上,金屬壓條通過固定螺絲將裝置主體固定在底座上。本發明還提供一種監測方法。本發明可以對SMD5032封裝晶體振蕩器振動狀態下進行無損傷的、精確的電性能監測,具有測試無損傷、測試穩定性好、操作快捷方便、測試效率高等特點和優勢。
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    “SMD5032晶體振蕩器振動試驗下電性能監測實現裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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