本發明涉及一種稻米參數自動測量裝置及方法,本裝置由預設的計算機控制,采用單株脫粒儀將稻穗脫粒,谷粒由單株脫粒儀通過直槽式接口落到皮帶上,由運轉的皮帶分離谷粒;由X-RAY成像系統拍攝X射線透射圖,由計算機將所得圖像進行處理,得到稻米的各項參數。本發明利用X射線成像的方法,用數字圖像處理技術處理拍攝到的圖像,得到稻米的各項參數,無需對脫粒后的谷粒進行去殼處理,且將脫粒、參數提取集成到一個系統中,具有安全無損、測量結果準確可靠,操作簡單等優點。
聲明:
“稻米參數自動測量裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)