本發明提供一種利用電磁倏逝波的相位變化測量介質損耗的方法,其包括步驟:1)在預先給定頻率的電磁波內確定待測介質折射率的實部,并把該待測介質定義為光疏介質;2)尋找一個折射率已知并且折射率實部大于待測介質的折射率實部的光密介質,并把光密介質和待測介質構成全反射系統;3)用預先給定頻率的電磁波從光密介質向待測介質入射,并調節入射角度,使電磁波在光密介質和待測介質的界面處發生全反射,并在待測介質內部產生倏逝波;4)在待測介質中選擇一個測量點,測量倏逝波相位的變化;并根據倏逝波相位的變化來計算待測介質折射率的虛部。該測量方法不僅能無損反復進行,還可實現超高精度的測量。
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