本發明涉及一種雙二維MEMS微鏡掃描的高靈敏共焦拉曼光譜快速測量方法及裝置,屬于顯微光譜成像技術領域。該方法利用兩片二維MEMS微鏡實現光束橫向掃描,省去了掃描透鏡和管鏡,并利用二向色分光系統實現反射光和拉曼散射光的無損分離,利用反射光構建共焦顯微成像系統,實現樣品幾何形貌的快速高空間分辨探測;利用拉曼散射光構建共焦拉曼光譜探測系統,對于表面比較平整的樣品,可以進行單層掃描快速完成樣品表面的拉曼光譜探測;對于表面起伏比較大的樣品,可以進行逐點定焦實現拉曼光譜的高空間分辨探測。本發明具有高靈敏、測量速度快、樣品適應性廣(可測量表面起伏較大樣品)、集成度高且結構簡單等優勢。
聲明:
“雙二維MEMS微鏡掃描的高靈敏共焦拉曼光譜快速測量方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)