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    用于石英晶體振蕩器芯片的性能評價測試裝置及方法

    1142   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:37
    本發明公開了一種用于石英晶體振蕩器芯片的性能評價測試裝置及方法。該測試裝置包括測試設備、晶體諧振器以及測試座,其中,測試座上設置有第一連接接頭、第二連接接頭以及多個測試觸點,多個測試觸點用于與待測芯片的多個管腳接頭一一對應地接觸,且多個測試觸點中的一部分與第一連接接頭電連接,第一連接接頭用于與測試設備電連接,多個測試觸點中的另一部分與第二連接接頭連接,第二連接接頭用于與晶體諧振器連接。本發明可以解決現有測試方法只能測試固定頻率和一種型號的芯片的問題,其具有測試無損傷、產品適配性好、應用范圍廣、測試精度及測試效率高等特點和優勢。
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