本發明提供一種光學材料折射率的精密測量裝置及方法,該裝置及方法能夠實現寬光譜分析法和法布里-珀羅干涉法的結合,通過全局殘差分析,得到精確的光學材料厚度和折射率,通過對寬光譜法布里-珀羅干涉系統進行光譜分析,可以得出某個連續波段下光學材料的折射率色散曲線。本發明提高了折射率的測量精度,利用絕大多數光學材料自身的平行平板結構形成穩定的干涉腔,減小了空氣擾動對干涉信號穩定性的影響,避免了將光學材料加工為特殊的形狀,實現了光學材料的無損測量。
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