本實用新型涉及太赫茲無損測量技術領域,提供了一種用于太赫茲時域光譜測量的裝置,包括安裝架、設置在安裝架的底部的樣品架、設置在安裝架上且分別位于樣品架兩側的兩組反光鏡組、分別設置在安裝架的兩相對側面上且與兩組反光鏡組一一對應的兩個光電導天線,以及設置在安裝架的側面上的紅光校準儀,其中一反光鏡組開設有與紅光校準儀同軸的開孔。本實用新型通過設置安裝架、樣品架、反光鏡組、光電導天線和紅光校準儀,使得裝置處于一個可視化的操作系統;在裝置中的一個反射鏡上開設一個開孔,使得紅光可以通過小孔徑開孔,反射到各鏡面上,來校準整個系統的光路,同時也可以確定樣品擺放的位置,進而解決了光路搭建過程中的盲目性。
聲明:
“用于太赫茲時域光譜測量的裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)