• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 無損檢測技術

    > 用于X射線衍射測量的具有針對非理想傳感器行為的校正的多次采樣CMOS傳感器

    用于X射線衍射測量的具有針對非理想傳感器行為的校正的多次采樣CMOS傳感器

    1170   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:40
    通過一個五步驟處理來降低CMOS有源像素傳感器中的每個像素的讀出噪聲,在該五步驟處理中,在一個傳感器幀時間段期間對來自該傳感器的像素電荷數據進行多次無損采樣,且針對增益變化和非線性校正該像素電荷數據。然后,估計固定圖案噪聲和暗電流噪聲,且將其從經校正的像素電荷數據減去。接下來,估計復位噪聲,且將其從該像素電荷數據中減去。在步驟四中,將電荷與時間的關系的模型函數擬合到經校正的像素電荷數據樣本。最后,在幀邊界時間處評估經擬合的模型函數。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “用于X射線衍射測量的具有針對非理想傳感器行為的校正的多次采樣CMOS傳感器” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    無損檢測
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>