本發明公開了一種基于貝葉斯理論的超聲C掃描路徑優化方法,屬于超聲無損檢測領域。采集初始超聲信號,提取出待檢測深度的缺陷特征值,并估算閾值。將已采集信號位置的缺陷特征值投入到高斯過程回歸模型中和增益期望函數,計算出各個未采集信號位置的補充采集得分,并以補充采集得分高于閾值的全部極值點坐標,作為新一輪的補充采集坐標。經過多輪次的補充采集后,檢測區域內不存在補充采集得分高于閾值的坐標,結束掃描,輸出全部坐標缺陷特征值的置信均值并成像。實現對塊狀結構內部缺陷的快速檢測和準確表征。該算法以較少的補充檢測輪次和較少數據采集量,實現金屬構件內部缺陷狀況的準確評估。
聲明:
“基于貝葉斯理論的超聲C掃描路徑優化方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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