本發明提供了表征渦輪葉片熱障涂層陶瓷層微結構特征的方法,方法包含:獲得至少三組涂層的太赫茲時域光譜信號;根據太赫茲時域光譜信號進行單峰高斯擬合計算評估表征量;將評估表征量與測得的涂層微結構特征進行線性擬合,獲得涂層微結構特征與評估表征量的關聯線性關系。通過采用上述的技術方案便于將太赫茲無損檢測在實際的服役狀態和制備狀態下實施,更加貼近日常檢測的需求和狀態,提高檢測的精度,滿足檢測的要求。
聲明:
“表征渦輪葉片熱障涂層陶瓷層微結構特征方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)