本發明涉及一種掃描磁探針顯微鏡,包括:低溫杜瓦設置在基準平臺的凹槽內,用于儲存液氮以降低其內部的樣品的溫度;樣品調平裝置設置在低溫杜瓦內,用于在樣本放入時調節樣品的高度以使該樣本與基準平臺保持平行狀態;二維掃描平臺設置在基準平臺的上表面,用于調節磁探針裝置的位置以使磁探針裝置處于不同的檢測位置;勵磁磁體設置在樣本調平裝置的上方,且內部用于放置樣本,用于為樣本提供外部磁場;磁探針裝置固定所述二維掃描平臺上,并且懸于樣品調平裝置的正上方;計算模塊與磁探針裝置相連接,用于根據磁探針裝置所檢測出的磁場空間分布信息計算樣品的電流密度。本發明可以無損連續檢測超導帶材的臨界電流密度。
聲明:
“掃描磁探針顯微鏡” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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