本發明涉及無損檢測領域,提供了一種基于雙相控陣探頭B掃描圖像的三維重建方法,包括以下步驟:使用超聲相控陣雙探頭設備對待測工件進行檢測,得到數量相等且一一對應的兩組B掃描圖像;將兩組圖像進行灰度化、濾波操作后,分別截取相當于工件一半厚度的圖像,進行拼接處理;篩選拼接后的圖像中存在缺陷回波的圖像,通過二維軌跡判斷法,篩去噪聲;利用篩去噪聲的圖像進行三維重建。本發明可在實際強噪聲工廠中,通過二維軌跡判斷篩選去除噪聲,增加對與噪聲較難分辨小缺陷的辨識度。此外,三維模型能夠精確顯示缺陷的空間信息,如缺陷的三維形狀以及在工件中的位置等,具有較高的可視性。
聲明:
“基于雙相控陣探頭B掃描圖像的三維重建方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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