一種控制微流控芯片內部親水化修飾效果的方法,屬于微流控芯片親水化控制技術領域,本發明基于兩個硼酸基團修飾的聚集誘導發光分子和含有羥基的聚乙烯醇(PVA)的特異性、選擇性識別作用,對經過親水化處理的微流控芯片內部進行熒光可視化成像標記,并通過熒光顯微鏡或激光共聚焦顯微鏡對其內部熒光強度及分布情況進行測量分析控制條件。本方法實現了對微流控芯片中微孔道的原位可視化控制,可解決傳統測量中無法對芯片內部實施原位檢測的難題,是一種安全、無損、快速有效的可視化識別方法,可廣泛應用于材料中對親水化處理效果的快速篩查。
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