本發明公開了一種分析聚變裝置第一鏡雜質沉積層厚度及其結構的方法,本發明是一種無損檢測第一鏡表面雜質沉積層厚度及結構的方法,可以直觀的顯示雜質沉積層的成分信息,且樣品無需預處理,實用性強。太赫茲波在等離子體及真空環境下傳播損耗小,可以實現遠距離原位在線診斷。本發明能夠在磁約束聚變裝置運行過程中原位分析第一鏡表面雜質沉積、分布特點,有助于理解磁約束聚變裝置運行過程中雜質灰塵沉積,氘氚燃料滯留等PSI問題。
聲明:
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