本發明公開一種基于正交偏振光的多通道白光共路干涉顯微層析系統,包括相差顯微鏡,設在所述相差顯微鏡的物鏡后焦面的為共軛面的偏振方向與補償面的偏振方向正交的偏振板,在相差顯微鏡的成像面后面設有空域相移干涉模塊??沼蛳嘁聘缮婺K由相位調整裝置、分光透鏡組、四分之一波片15、偏振分束器以及圖像傳感器構成。本發明只需要在現有相差顯微鏡的前提下更換配有相板的物鏡,可實現真正的實時測量,可以定量地測量物體,并且可以實現無損地實時測量物體三維信息。
聲明:
“基于正交偏振光的多通道白光共路干涉顯微層析系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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