• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 微光顯微鏡芯片失效分析方法及系統

    微光顯微鏡芯片失效分析方法及系統

    840   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:29
    本發明公開了一種微光顯微鏡芯片失效分析方法,利用硬件描述語言開發芯片測試激勵;用軟件對芯片測試激勵進行仿真,仿真正常后將芯片測試激勵燒入FPGA基板;FPGA基板輸出多個激勵pattern輸出到待分析芯片的多個引腳,使待分析芯片電路進入故障激發模式;通過微光顯微鏡捕捉亮點,最后對亮點進行電路分析和失效分析。本發明還公開了一種微光顯微鏡芯片失效分析系統。本發明的微光顯微鏡芯片失效分析方法及系統,能實現多通道復雜測試向量施加,實現微光顯微鏡芯片缺陷定位,降低了芯片失效分析成本并提高分析效率。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “微光顯微鏡芯片失效分析方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>