• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 對芯片進行失效分析的裝置及方法

    對芯片進行失效分析的裝置及方法

    1137   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:30
    本發明公開了對芯片進行失效分析的裝置及方法。該裝置包括紅外金相顯微鏡、顯示器、芯片載臺、電流源、金屬探針和金屬探針調節座,紅外金相顯微鏡適于觀測待測芯片發射區的電致發光情況;顯示器與紅外金相顯微鏡相連并適于顯示紅外金相顯微鏡觀測到的情況;芯片載臺適于盛放待測芯片;電流源適于輸出直流電流并控制輸出的直流電流的大??;探針調節座適于將與電流源輸出端相連的金屬探針的探針尖與待測芯片的電極接觸。該裝置不僅結構簡單,還能通過電致發光情況精確判定待測芯片是否存在失效、失效位置的形狀以及失效位置具體是位于芯片內部還是表面,同時可以判定待測芯片失效的電性形態,能夠大大提升對芯片進行失效分析的準確率和可靠性。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “對芯片進行失效分析的裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>