本發明提供一種共享字線的分柵式閃存的失效分析方法及系統,不僅關注失效存儲位單元本身,還將與失效存儲位單元共享字線的同行同列存儲位單元的影響、失效存儲位單元所在字線(行)、位線(列和IO接口電路)以及控制柵極線的影響等考慮在內,根據失效存儲位單元的功能驗證及其相鄰存儲位單元的電流信息前后比對,確定出失效存儲位單元的失效模式是自身缺陷引起的功能失效,還是與其共享字線的同行同列存儲位單元和其所在的字線、位線以及IO接口電路等周圍環境缺陷引起的失效,并給出其具體失效模式,整個分析過程可自動完成,無需專業人員在場,能節約人力資源與測試機時及提高失效分析效率和結論準確性。
聲明:
“共享字線的分柵式閃存的失效分析方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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